雷達式物位測量儀表
VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列
液體或固體介質，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、
蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質 VEGAPULS 61 配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。 優勢
- 探頭材料: PVDF 或 PP
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 20 米
過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭
過程溫度 -40 ... 80°C
過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
測量精度 ±5 mm
發射頻率 K-頻段 VEGAPULS 62 配有喇叭口天線、拋物線天線或?"- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質。 優勢
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 200°C
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
測量精度 ±3 mm
發射頻率 K-頻段 VEGAPULS 63 配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量 (K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性強的介質，或用于衛生無菌要求高的環境。 優勢
- 用于探測的材料只有一種
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 20 米
過程連接 法蘭或衛生連接
過程溫度 -200…150°C
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
測量精度 ±3 mm
發射頻率 K-頻段 VEGAPULS 65 配有棒式天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量 (C-頻段)
特別適用于小的過程連接，在較為簡單的過程條件下測量腐蝕性液體。 優勢
- 探頭材料: PVDF 或 PTFE
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 150°C
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
測量精度 ±10 mm
發射頻率 C-頻段 | VEGAPULS 66 配有喇叭口天線或2”導波管天線的雷達傳感器，用于連續物位測量(C-頻段)
特別適用于在復雜的過程條件下進行測量。 優勢
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 法蘭
過程溫度 -40 ... 400°C
過程壓力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)
測量精度 ±10 mm
發射頻率 C-頻段 VEGAPULS 67 配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續固料料位測量(K-頻段)
特別適用于測量固體料位，料倉高度可達15米。 優勢
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 15 米
過程連接 龍門框或鎖緊法蘭
過程溫度 -40 ... 80°C
過程壓力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)
測量精度 ±15 mm
發射頻率 K-頻段 VEGAPULS 68 配有喇叭口天線或拋物線天線的雷達傳感器，用于連續測量固體料位 (K-頻段)
特別適合測量固體料位，通過萬向節可以調整天線方向，以適用于不用形狀的料倉，并對準料面。 優勢
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*的模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達70 米
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 200°C
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
測量精度 ±15 mm
發射頻率 K-頻段 |
